Advanced Reliability Testing Proven Performance. For the Future of Power Semiconductors.
DS-IOL (구 DSIOL120)
1) Overview
Test Type: Intermittent Operating Life (IOL) Test
DUT Capacity: Max 48 EA
Load Current: 0 ~ 120 A
Measurement Range (Vds): -3 V ~ +3 V
Cooling Medium: Air
Monitoring Parameters: Tj/Tc, Vds
Setup Parameters:
Thermal junction-to-case resistance
On-resistance at 25 °C
Start temperature
End temperature
Max current per PSU
Max DUT heat-up time
2) Application
DS-IOL 장비는 FET, IGBT 등의 고전압·고전류 전력반도체 소자에 대해 Intermittent Operating Life 시험을 수행하는 시스템입니다. 시험 중 DUT의 Gate 바이어스를 On/Off 반복하면서 설정된 온도(Tj/Tc) 범위 내에서 열 스트레스를 가하고, 이때 Vds 및 온도 변화를 15,000 Cycle 이상 실시간 모니터링합니다. 최대 48개의 DUT에 대해 프로그램 기반 제어가 가능하여 반복적인 신뢰성 평가가 가능합니다.
3) Description
PC 기반 응용 프로그램을 통해 시험 조건을 설정하며, 각 소자의 Gate 신호 제어, 전압/온도 실시간 모니터링이 가능합니다. 설정된 조건에 따라 DUT의 온도 상승 시간, 전류 범위, 온도 범위 등을 제어할 수 있으며, 시험 중 수집된 데이터는 LOG 파일로 저장되어 시험 종료 후 분석에 활용됩니다.