DS-RB  (구 DS2000HP, DS4500HP)
 
1) Overview 

Test Type: HTRB (High Temperature Reverse Bias)
Vce Stress Voltage: 2000V (Unipolar or Bipolar) / 4500V Unipolar (선택 가능)
Oven or ICTC Temp: RT ~ 200 °C
DUT Socket: User dependency (TO220, TO247 and etc).
Individual Chip Temperature Control (ICTC) for DUT up to 50~100W. (Device에 맞는 Socket 개발 시 제어 가능)
Remote Diode Temperature Sensor 지원
Power Isolation 및 개별 측정 가능
Sampling Interval: ≤ 100ms (DUT) 

2) Application

DS-RB 장비는 HTRB(고온 역바이어스) 시험 전용 장비로, FET, IGBT 등의 전력반도체 소자에 고온과 고전압을 인가하며 누설 전류 및 온도 특성의 변화를 모니터링하여 장기 신뢰성을 평가합니다. 

3) Description

시험 조건은 PC 응용 프로그램에서 설정되며, 각 DUT의 전류, 온도, 전압을 개별로 측정·제어합니다. 소자의 열화가 감지되면 해당 DUT만 차단되도록 설계되어 있어, 시스템 전체의 시험 안정성을 확보할 수 있습니다. 진단 테스트 기능과 LOG 분석을 통해 시험 상태 및 결과를 효율적으로 관리할 수 있습니다.