DS-DGS  (구 DS2000DGS)
 

1) Overview 

Test Type: DGS (Dynamic Gate Stress)
DUT Capacity: 6(Module) or 18(Discrete) EA/Board 선택가능 , Max 6 Slot
Oven Temp : RT ~ 200 °C
Vgs Control: On 12 ~ 23 V / Off -3.3 ~ -22 V
dVgs/dt: ≥ 1 V/ns (No Overshoot)
Vgs Switching Frequency: 30 Hz ~ 50 kHz / Duty: 10 ~ 90 %
Monitoring Channels: Vgs 18CH/Board
Sampling Interval: ≤ 1 s (Board)

2) Application

DS-DGS 장비는 전력반도체의 Gate 구조에 반복적인 고속 전압 스트레스를 인가하여 신뢰성을 검증하는 시스템입니다. 특히, SiC 소자에 적합하며, ECPE AQG 324 규격에 따른 신뢰성 시험이 가능합니다.

3) Description

고온 환경에서 DUT에 Gate On/Off 펄스를 고주파로 인가하며, 전압 변화율(dv/dt)에 따른 Gate 구조의 내성을 평가합니다. 시험 조건은 PC에서 설정되며, 실시간 모니터링 및 LOG 기록을 통해 DUT의 열화 및 이상 여부를 조기에 판단할 수 있도록 설계되었습니다.